Chroma 3112 晶片測試分類機其高效率的模組化設計與精準的機構傳動 結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產要 求，多重檢查功能裝置可降低待測物發生異常的 損壞。

晶片測試運用此自動化測試分類技術不僅能提升 生產效率、減少人力需求，同時也增加了測試穩 定度及測試良率。此外，其簡潔的機臺設計更可 節省機臺于測試廠之占地面積，幫助客戶大幅降 低生產成本。

Chroma 3112 晶片測試分類機的特色：

• 高信賴度之PnP自動化測試分類機
• x4 多盤置入自動測試分類
•  (X/Y/Z/θ) 可調式探針座模組
• 測式座產品堆迭檢測
• x12 輸出分類盤可程式設定輸出類別
• 全程即時良率顯示與控制
• 全程探針接觸狀態顯示 (選配)